Test sinyalini seçin
İncelenen komponente uygun frekans ve test voltajını belirleyin.
VI Tester, elektronik kart arıza tespitinde kullanılan bir komponent test cihazı ve V-I eğri analizörüdür (curve tracer). Karta kendi çalışma enerjisini vermeden, kontrollü test sinyaliyle MOSFET, transistör, diyot ve diğer komponentlerin elektriksel davranışını inceleyin; A/B kanallarıyla referans ve şüpheli devreyi karşılaştırın.
Satış fiyatı 1450 USD + KDV
VI Tester, kontrollü sinyal uygulayarak komponentin V-I eğrisini ekranda gösterir. Sağlam bir referansla yapılan karşılaştırma, arıza araştırmasında hangi noktaya odaklanmanız gerektiğini değerlendirmenize yardımcı olur.
İncelenen komponente uygun frekans ve test voltajını belirleyin.
Komponentin voltaj-akım ilişkisini ekrandaki eğri üzerinden inceleyin.
A/B kanallarıyla sağlam ve şüpheli noktalar arasındaki eğri farklarını değerlendirin.
Sağlam kart ve şüpheli kart üzerindeki karşılık gelen noktaların eğrilerini birlikte inceleyin.
Potansiyometre ile sinyal genliğini ayarlayın. Yüksek değerli kondansatörlerin eğrilerini farklı ayarlarda değerlendirin.
Scan kontrolüyle tarama ve hız ayarını çalışma ihtiyacınıza göre düzenleyin.
RGB TFT ekran üzerinde eğrileri ve ölçüm ayarlarını takip edin.
Cihaz tanıtımını aşağıdaki videodan izleyebilirsiniz.
Farklı komponentler ve devre yapıları için seçilebilir test parametreleri.
PDF kataloğu indirin ↓Teknik bilgiler ürün kataloğuna dayanır.
| Dalga şekli | Sinüs |
|---|---|
| Test frekansı | F1: 300 Hz · F2: 500 Hz F3: 1 kHz · F4: 2 kHz · Cap: 50 Hz |
| Test voltajı | 5 V · 10 V · 25 V · 60 V (tepe) |
| Kanal sayısı | 2 kanal: A ve B |
| Kanal kontrolü | Dual Channel tuşu |
| Tarama | Manuel / otomatik; Scan ve hız ayarı |
| Ekran | RGB TFT kapasitif dokunmatik |
| Bağlantılar | Banana Ch.A, Ch.B, Com; ESD ve güç voltajı bağlantıları |
| Giriş voltajı | 220 V AC |
| Boyutlar | 288 × 250 × 103 mm |
Elektronik bakım, onarım ve arıza araştırması yapılan pek çok çalışma alanında kullanılabilir.
Komponentler: Direnç, kondansatör, bobin, diyot, Zener, Schottky, NPN/PNP, JFET, MOSFET, SCR, triyak, optokuplör, analog ve dijital entegreler.
Ölçüm sonuçları devre yapısına ve paralel bağlantılara göre değişebilir. Doğru değerlendirme için sağlam komponent veya referans kart karşılaştırması önerilir.
VI Tester, voltaj-akım (V-I) eğrisi veya elektriksel imza analizi ile devre noktalarının davranışını karşılaştırmaya yardımcı olur. Ölçüm sırasında kartın normal beslemesi kapalı tutulur; cihaz kendi kontrollü test sinyalini uygular. Sağlam referansla karşılaştırma, şüpheli noktaların belirlenmesini kolaylaştırır.
Yarı iletkenlerin jonksiyon ve iletim davranışlarını V-I eğrisi üzerinde inceleyin. Zener ve Schottky diyotlar, NPN/PNP transistörler ve MOSFET ölçümlerinde uygun test kademesini seçin.
Kondansatör sağlamlık testi için 50 Hz Cap kademesinden yararlanın. Direnç, bobin ve diğer pasif devre elemanlarının eğrilerini aynı koşullarda alınmış referans ölçümleriyle değerlendirin.
A/B çift kanal kullanarak sağlam ve arızalı elektronik kartlarda karşılıklı test noktalarını inceleyin. Açık devre, kısa devre ve komponent değer değişimi şüphesini ölçüm eğrilerindeki farklılıklarla araştırın.
V-I eğrisi tek başına her arızanın nedenini kesin belirlemez. Paralel bağlı komponentler ve devre topolojisi ölçüme etki eder; gerekli durumlarda komponenti devreden ayırarak doğrulayın. Ölçümden önce kart beslemesini kesin ve kondansatörlerin güvenli şekilde boşaldığını doğrulayın.
İlgili teknik rehberler: MOSFET, transistör, diyot, Zener ve kondansatör testi · Elektronik kart arıza tespit yöntemleri · VI Tester nedir?
Komponent test rehberi: MOSFET, transistör, diyot, Zener, kondansatör ve direnç testi
Voltaj-akım eğrileri, referans karşılaştırması ve yöntemin sınırları.
Enerjisiz kartta karşılaştırmalı inceleme için çalışma adımları.
Mevcut cihazın özellikleri ve cihaz seçiminde değerlendirilecek noktalar.
Ürün, sipariş ve teslimat bilgileri için bizimle doğrudan iletişime geçin.